WebMOSFET 裏側金属プロセス. バックエンドプロセス ターンキーソリューション. チップ・テスト (Chip Probing) レーザ マーキング (Laser Marking) 真空マウンティング (Vacuum Mounting) TAIKOの除去 (Ring Removal) ダイ・カッティング (Die Sawing) フレームテスト (Frame Probing) WebChip Probing. PTI offers comprehensive chip probing services for Memory and Logic devices. In addition to testing and WLBI service for mass production products, we also provide probing technology development, devices correlation, engineering, and special lots support. Flip Chips.
TEST 芯片测试的几个术语及解释(CP、FT、WAT)
WebAug 13, 2024 · 都需要做功能级别测试的。chip probing基本原理是探针加信号激励给pad,然后测试功能。 a. 测试对象,wafer芯片,还未封装; b. 测试目的,筛选,然后决定是否封装。可以节省封装成本(MPW阶段,不需要;fullmask量产阶段,才有节省成本的意义)。 c. 需要保证:基本功能成功即可,主要是机台测试 ... http://www.memscard.com/jycs go back to windows 8 from 10
CP测试实例-芯片测试介绍(三) - 知乎 - 知乎专栏
WebProbing Machine: FP3000. 300mm Framed wafer & CSP handling machine. Probing Machine: UF3000LX. It is the prober with high-speed probing that targets non-memory device. Probing Machine: UF2000. … Webprobe翻譯:盤問;追問;探究, (用工具)探查,探測, 探索;探查;查究;調查, (醫生用的)探針, 探測器。了解更多。 Web晶片測試 (Chip Probing) 雷射刻號 (Laser Marking) 真空貼片 (Vacuum Mounting) 太鼓環移除 (Ring removal) 晶片切割 (Die sawing) 切割後測試 (Frame Probing) 晶粒挑揀 (Tape / Reel) 最終測試 (Final Test) bone spurs in knee cap